题名:	半导体器件可靠性 / 《半导体器件可靠性》编写组编 ,
ISBN:	价格： RMB0.94
语种:	chi
载体形态:	372页 19cm
出版发行:	出版地：北京出版社：国防工业出版社出版日期： 1978
主题词:	半导体器件可靠性
中图分类法:	TN306 版次： 3
索书号:	TN306/10