题名:
半导体测试技术原理与应用   [ 专著] ban dao ti ce shi ji shu yuan li yu ying yong / 刘新福,杜占平,李为民编著 ,
ISBN:
978-7-5024-4101-2 价格: CNY28.00
语种:
chi
载体形态:
12,304页 图 21cm
出版发行:
出版地: 北京 出版社: 冶金工业出版社 出版日期: 2007
内容提要:
本书以半导体测试技术及测试技术的改进为基础,介绍微区薄层电阻多种测试方案的实施与应用,共十一章。 
主题词:
半导体材料   测试技术
中图分类法:
TN304.07 版次: 4
主要责任者:
刘新福 liu xin fu 编著
主要责任者:
杜占平 du zhan ping 编著
主要责任者:
李为民 li wei min 编著
附注:
天津市科协自然科学学术专著基金资助出版