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题名:
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超大规模集成电路测试 / 雷绍充，邵志标，梁峰编著 , |
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ISBN:
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978-7-121-06307-7 价格： 45.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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12,319页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2008.05 |
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内容提要:
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本书主要内容包括：电路测试基础，验证、模拟和仿真，自动测试生成，专用可测性设计，扫描设计，边界扫描法，随机测试和伪随机测试，内建自测试，电流测试，存储器测试，SoC测试。 |
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主题词:
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超大规模集成电路 测试技术 |
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主题词:
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超大规模集成电路 |
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主题词:
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测试技术 |
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中图分类法:
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TN470.7 版次： 4 |
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主要责任者:
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雷绍充 编著 |
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主要责任者:
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邵志标 编著 |