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题名:
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全面的功能验证 / (美)Bruce Wile，(美)John C. Goss，(美)Wolfgang Roesner著 , 沈海华，乐翔译 |
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ISBN:
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978-7-111-29641-6 价格： 98.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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21,487页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2010.03 |
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内容提要:
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本书分5个部分。第1部分的内容是功能验证概述，包括概念背景、验证计划、验证策略和一些基本练习；第2部分和第3部分关注两个最主要的功能验证方法：基于模拟的验证方法和形式验证方法；第4部分把注意力集中在验证周期的后期阶段；第5部分，是一些验证实例研究的集合，进一步强调了验证周期和验证过程中的相关概念。 |
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主题词:
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半导体集成电路 芯片 |
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主题词:
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半导体集成电路 |
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主题词:
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芯片 |
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中图分类法:
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TN430.2 版次： 4 |
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其它题名:
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完整的工业流程 |
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主要责任者:
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Wile 著 |
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主要责任者:
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Goss 著 |
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主要责任者:
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Roesner 著 |
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次要责任者:
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沈海华 译 |
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次要责任者:
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乐翔 译 |