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题名:
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程序设计缺陷分析与实践 / 尹浩，于秀山编著 , |
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ISBN:
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978-7-121-12969-8 价格： 36.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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268页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2011.03 |
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内容提要:
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全书共5章2个附录，分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析、Java语言程序设计缺陷分析、软件质量静态度量以及静态测试工具使用实践。 |
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主题词:
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程序设计 |
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中图分类法:
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TP311.1 版次： 4 |
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主要责任者:
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尹浩 编著 |
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主要责任者:
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于秀山 编著 |