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题名:
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公差配合与技术测量 / 于慧，冯邦军主编 , |
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ISBN:
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978-7-122-10625-4 价格： 22.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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175页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 化学工业出版社 出版日期： 2011.06 |
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内容提要:
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本书分为公差配合和技术测量两大部分。主要内容包括：极限与配合、几何公差及其检测、表面粗糙度及其检测、测量技术基础、典型零件的公差与配合等。 |
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主题词:
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公差 配合 |
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主题词:
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技术测量 高等职业教育 |
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主题词:
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公差 |
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主题词:
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配合 |
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主题词:
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技术测量 |
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中图分类法:
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TG801 版次： 4 |
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主要责任者:
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于慧 主编 |
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主要责任者:
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冯邦军 主编 |
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附注:
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高职高专“十二五”规划教材 |