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题名:
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光电器件测试技术 / 彭晓雷，张逊民主编 , |
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ISBN:
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978-7-121-13809-6 价格： 29.50 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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101页 图 26cm 1光盘 |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2011.06 |
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内容提要:
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本书以光电器件测试技术为主要对象，通过各种光电器件测试仪器来讲解测试技术，较全面地介绍了在光学量和非光学量测试中所涉及的基本理论和概念、主要测试原理和测试方法、仪器组成及主要技术特点。 |
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主题词:
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光电器件 测试技术 |
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主题词:
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光电器件 |
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主题词:
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测试技术 |
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中图分类法:
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TN206 版次： 4 |
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主要责任者:
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彭晓雷 主编 |
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主要责任者:
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张逊民 主编 |
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附注:
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职业院校理论实践一体化系列教材 (光电子技术专业)/陈振源总主编 |