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题名:
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光学测试技术
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刘承，张登伟，张彩妮等编著
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ISBN:
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978-7-121-20194-3
价格：
49.90
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语种:
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chi
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载体形态:
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311页
图
26cm
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出版发行:
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出版地：
北京
出版社：
电子工业出版社
出版日期：
2013.06
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内容提要:
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本书包括6章内容，分别为绪论、光干涉技术、光衍射技术、光调制及扫描技术、光纤传感技术和光微纳米测量技术。
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主题词:
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光学仪器
测试技术
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主题词:
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光学仪器
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主题词:
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测试技术
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中图分类法:
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TH740.6
版次：
5
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主要责任者:
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刘承
编著
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主要责任者:
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张登伟
编著
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附注:
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光电信息科学与工程类专业规划教材
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