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题名:
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公差配合与精度检测 / 张秀芳，许晖主编 , |
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ISBN:
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978-7-121-22369-3 价格： 26.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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10,174页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2014.01 |
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内容提要:
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本书主要内容包括尺寸公差及配合设计、形位公差设计、表面粗糙度设计、光滑工件尺寸检测、典型零件公差及检测、尺寸链分析与计算等。 |
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主题词:
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公差 配合 |
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主题词:
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机械 精度 |
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主题词:
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公差 |
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主题词:
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配合 |
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主题词:
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机械 |
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主题词:
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精度 |
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中图分类法:
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TG801 版次： 5 |
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中图分类法:
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TH122 版次： 5 |
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主要责任者:
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张秀芳 主编 |
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主要责任者:
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许晖 主编 |
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版次:
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2版 |
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附注:
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全国高等职业教育“十二五”规划教材 中国电子教育学会推荐教材 全国高职高专院校规划教材·精品与示范系列 |