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题名:
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半导体物理实验
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李志彬，陈新安主编
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ISBN:
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978-7-5647-2907-3
价格：
22.60
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语种:
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chi
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载体形态:
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116页
图
26cm
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出版发行:
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出版地：
成都
出版社：
电子科技大学出版社
出版日期：
2015.04
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内容提要:
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本书共包括实验项目18个，其中10个为半导体物理实验，8个为半导体器件实验。主要包括：四探针法测量电阻率；P-N导电类型鉴别；椭圆偏振光谱法测量单晶硅的光学常数；激光测定单晶硅的晶向等。
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主题词:
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半导体器件
半导体物理
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中图分类法:
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TN303-33
版次：
5
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主要责任者:
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李志彬
主编
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主要责任者:
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陈新安
主编
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