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题名:
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可靠性物理 / 恩云飞，谢少锋，何小琦编著 , |
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ISBN:
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978-7-121-27232-5 价格： 88.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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16,426页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2015.10 |
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内容提要:
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本书全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和失效物理模型。全书共13章，前两章介绍可靠性物理及其发展现状，并介绍了8类经典的失效物理模型及工程应用的意义；后11章分别论述了微电子器件、微波器件、光电子器件等。 |
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主题词:
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电子元件 可靠性 |
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主题词:
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电子器件 可靠性 |
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中图分类法:
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TN6 版次： 5 |
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主要责任者:
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恩云飞 编著 |
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主要责任者:
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谢少锋 编著 |