检索条件: 杜占平 ( 著者 )
责任者 刘新福,杜占平,李为民
出版信息 冶金工业出版社 ,2007
ISBN 978-7-5024-4101-2
扫二维码,手机查看
在粘贴到您的文章之前,请再检查一遍引文格式的准确性。
半导体测试技术原理与应用
刘新福,杜占平,李为民.冶金工业出版社,2007.
预借图书
加入成功
您可到个人图书馆查看或取消预约
预约图书
您可在“我的图书馆→我的预约”菜单里查看预约记录
没有可借图书,您可对该书进行预约,等书还回后会按照预约顺序分配给您